薄膜厚度测量仪的应用和技术原理
更新时间：2013-11-12 点击次数：2529次
薄膜厚度测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。
对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如A,T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signalintegration也能测量出来。
对于反射率测量，薄膜厚度测试仪软件能够测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米），光学常量（n&k）。
薄膜厚度测试仪应用：
薄膜厚度测量系统测量薄膜吸收率,透过率
薄膜厚度测量系统测量化学薄膜和生物薄膜测量
薄膜厚度测试仪光电子薄膜结构测量
薄膜厚度测量系统半导体制造
薄膜厚度测试仪聚合物测量
薄膜测量系统在线测量
薄膜测量系统光学镀膜测量
这款薄膜厚度测量系统是超功能多样的薄膜厚度测试仪,结合显微镜测量薄膜厚度,折射率和消光系数等
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